下午两点，魏兴思突然出现在216门口，说道：“许秋，韩嘉莹，你们俩那篇JACS的审稿意见也已经返回，我转发到你们的邮箱了。”    许秋点头应下，这篇文章他和和韩嘉莹是共一，学妹排在了他的前面，因为涉及的体系是H22:ITIC，而H22主要是学妹开发出来的，三作挂的是莫文琳。    许秋打开电脑，和韩嘉莹一起查看审稿意见，莫文琳也拉了个凳子坐在后面围观。    浏览了一遍审稿意见后，许秋发现这次学妹的这篇JACS比他刚被接受的AM“运气差了一些”，遇到的审稿人比较严苛。    虽然三个审稿人给出的意见都是正面的，但是修改起来比较麻烦，最终编辑的意见是大改，期限二十天。    1#审稿人要求补充共振软X射线散射（R-SoXS）表征测试。    这个测试，许秋在一些国内同行发表的文章中偶尔能够看到，也知道去魔都光源就可以测试。    不过，R-SoXS测试的线站和GIWAXS不是在同一个线站，需要单独申请机时才能够测试。    和GIWAXS用到的10或18千电子伏特的硬X光不同，R-SoXS用到的是284.8电子伏特的软X光，主要用来表征薄膜中的相分离信息，也就是可以测试得到相区的大小。    对于传统富勒烯衍生物的体系来说，激子扩散距离通常在10纳米的尺度，最佳体系测试得到的相区尺度通常在10-20纳米左右。    审稿人比较感兴趣的地方是，这种新的高性能ITIC非富勒烯材料，会不会在相区大小上有什么独特的表现。    这倒是给了许秋一个之后研究的思路，不过现在手里没有机时，显然是来不及测试了。    每年3月份、9月份，光源会审批两次申请书，他们应该能赶得上9月份的那一场审批，审批通过要测试也是明年的事情了。    想到这里，许秋转头说道：“莫文琳，你来撰写一下R-SoXS的申请书吧，我等会儿把之前申请GIWAXS的模板给你，你把里面的GIWAXS替换成R-SoXS，再替换一些描述即可，比如把‘表征分子堆砌结构’改为‘表征相分离形貌信息’，只要完成首次申请，日后就可以通过发文章申请奖励机时实现永动。”    莫文琳点头应和：“好的。”    韩嘉莹问道：“这个意见怎么回复呢？”    许秋不假思索道：“只能先应付过去了，可以这样回复，我们非常感谢你的意见，但由于客观原因无法测试巴拉巴拉……”    2#审稿人表示“恭喜又一非富勒烯体系的效率突破10%”，然后要求“出具电池器件的第三方检测报告”。    第三方检测报告，这确实是个问题，现在效率只有10%其实还好说，之后如果效率进一步提升，试图打破世界纪录，没有第三方检测报告的话，别人不一定会认可。    一方面，不同实验室的测试方法、测试条件都不完全一样，难免会产生类似“你的12%真的是12%吗？”的想法；另一方面，也是为了防止数据造假。    毕竟一根J-V曲线，如果从负0.2伏特扫描到1.5伏特，以0.02伏特为间隔，也不过85个数据点，想要造假太容易了，随便“优化”一下，效率翻个倍简简单单，而且光从数据上也根本看不出来是假数据。    像之前徐正宏课题组IDTBR体系的10%、11%效率，也都是送检过的。    当然，也不是所有审稿人都会提出这样的要求，像之前许秋PCE11那篇AM就没有被要求送检。    但搞科研嘛，还是要尽量做到完备，别人不提那是别人的事，自己做的工作还是要尽可能的扎实。    不然，一个全是漏洞的工作，哪怕结果性能再好，也会让人产生怀疑：“会不会是测试过程有问题，或者干脆就是假数据”。    关于国内的检测机构，许秋也是有所了解的。    最大的就是位于京城的

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